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综合馆
质子单粒子效应实验束流诊断中的SEEM研制
  • 摘要

    针对目前我国急需开展质子单粒子效应辐照实验的需求,研制了适用于质子束流注量率监测的次级电子发射监督器(secondary-electron emission monitor,SEEM).测试结果表明,SEEM在监测注量率为109~1010 cm-2·s-1的质子束流时,其电流与注量率间的线性相关性很好,可应用于质子单粒子效应实验束流诊断.同时,测量了不同质子能量下铝的次级电子发射系数,测量值与理论计算结果吻合较好.

  • 作者

    宋雷  郭刚  沈东军  陈泉  刘建成  何安林  韩金华  范辉  史淑廷 

  • 作者单位

    中国原子能科学研究院,北京,102413

  • 刊期

    2015年3期

  • 关键词

    SEEM  质子单粒子效应  束流诊断 

参考文献
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