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综合馆
直接压片X-射线荧光光谱法在赤泥分析中的应用
  • 摘要

    对采用直接压片X射线荧光光谱法测定氧化铝生产中赤泥的各元素含量进行了研究.采用TL+数学模型校正,测定范围分别为Al2O3:10.00%~36.50%, SiO2:4.50%~10.50%, Fe2O3:25.00%~45.00%, CaO:12.50%~26.50%, Na2O:1.00%~5.00%,测定结果的RSD分别为0.22%、0.19%、0.38%、0.16%、0.33%,可用于控制分析.

  • 作者

    罗湘宁  周开雄  吴志华 

  • 作者单位

    中铝股份广西分公司中心试验室,平果,531400

  • 刊期

    2004年4期 ISTIC PKU

  • 关键词

    X-射线荧光光谱  直接压片  赤泥  元素分析 

参考文献
34.204.202.44