登录 | 注册 | 退出 | 公司首页 | 繁体中文 | 满意度调查
综合馆
一种基于CCD的非接触尺寸测量系统
  • 摘要

    设计了一种基于CCD的非接触尺寸测量系统.运用亚像素边缘检测法对圆环进行边缘检测,完成对圆环的非接触尺寸测量.利用数据库实现对测量数据的存储管理及网络传输.通过实验证明:对圆环测量精度外径误差0.005 mm,内径误差0.001 mm,壁厚误差0.015 mm,整体绝对误差小于0.02 mm,相对误差小于0.07%,满足了工程高精度测量要求.本系统适合有危害性的工业现场环境,数据的存储管理功能也给实际应用带来很大便利.

  • 作者

    单桂军  胡伟  SHAN Guijun  HU Wei 

  • 作者单位

    江苏科技大学电信学院,江苏镇江212003;镇江高等专科学校电子与信息系,江苏镇江212003/湖南第一师范学院科研处,湖南长沙,410002

  • 刊期

    2013年15期 ISTIC PKU

  • 关键词

    CCD  边缘检测  尺寸测量  图像处理  非接触尺寸测量  edge detection  dimension measurement  image processing  size of non-contact measurement 

相似文献 查看更多>>
35.175.121.230